Introducción al microscopio electrónico de barrido
El microscopio electrónico de barrido (microscopio electrónico de barrido, SEM) es un instrumento de precisión a gran escala utilizado para el análisis de micro-topografía de alta resolución. Tiene las características de gran profundidad de campo, alta resolución, imágenes intuitivas, fuerte sentido tridimensional, amplio rango de ampliación, y la muestra a probar se puede girar e inclinar en el espacio tridimensional.